CIT-3000SMD(A) X荧光分析仪

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CIT-3000SMD(A)

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    产地 台州 是否进口 加工定制
    品牌 其他 型号 CIT-3000SMD(A) 类型 金属元素分析仪器
    测试范围 1-40kev 测量时间 10-2550s 测量精度 1ppm-99.99
    电源电压 220V/50HZ(V\HZ) 适用范围 Na-U

    图片20161007111627

    一、应用领域

    该仪器是专门为黑色冶金、矿山样品分析行业打造的一款针对性极强的分析仪器,对原矿、精矿、尾矿、烧结矿、球团矿、炉渣、生铁、石灰石等许多样品可进行多元素快速检测。

    二、性能特点:

    ♦样品平台自动升降,工作十分方便;
    ♦样品盘自动旋转,测量面积更大,并能 大限度的消除颗粒误差和不均匀误差;
    ♦抽真空测量,可以更大限度的提高测量元素的检测限,有利于金属测量以及其他轻元素测量;
    ♦先进的模块化设计理念,保障了仪器后续的高扩展性;
    ♦采用低功率X光管端窗前直径更大,对样品具有更好的激发效率;
    ♦更先进的 Superfast SDD 电制冷半导体探测器,分辨率和计数率更高,有利于要求更高或更复杂的样品分析。

    三、仪器技术指标

    (1)测量范围:1-40kev;
    (2)可分析元素范围:Na-U;
    (3)分析含量范围:1ppm-99.99%;
    (4)分辨率:优于127Ev;
    (5) 低检出限:Pb≤5ppm;
    (6)工作环境温度:0-40摄氏度;
    (7)工作环境相对湿度:≤80% (不结露)
    (8)测量时间:10-2550s(时间可调)
    (9)输入电源:AC 220V ±10%,50HZ;
    (10)额定功率:300W;
    (11)探测器类型:更先进的 Superfast SDD 探测器;
    (12)500万像素的CDD摄像头,可有效的实现观察测试区域状况,并拍下物料照片,可作为检测报告的组成部分;
    (13)仪器尺寸:600(W) *570(D) *570(H)mm
    (14)样品腔尺寸:样品腔:300*300*100 mm
    (15)重量:约100Kg

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